Analytik
Pulver-R?ntgendiffraktometrie G670
Einsatz
Mithilfe der R?ntgenbeugungk?nnen Diffraktogramme polykristalliner Proben aufgenommen werden, woraus sich Informationen über die Zusammensetzung und Struktur ableiten lassen für die qualitative und quantitative Identifikation und Phasenzusammensetzung eines Materials.
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Technische Spezifikationen
- Hersteller: xHuber
- R?ntgenquelle: Cu-Kα?mit Germaniummonochromator
- Messgeometrie: TRansmission
- Detektor: G670 Guinier-Kamera
Elektroden und Sonden für pH, Fluor, Redoxpotential und Leitf?higkeit
Einsatz
Zur Messung von elektrolytischer Leitf?higkeit/Widerstand/Salinit?t bzw. pH oder dem Redox-Potential, sowie der Fluorkonzentration in Flüssigkeiten.
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Technische Spezifikationen
- Hersteller: HANNA instruments, Mettler Toledo
Por?sit?ts- & Oberfl?chanalyse nach Brunauer, Emmet und Teller (BET) 3P micro 300C
Einsatz
Durch die Bestimmung der spezifischen Oberfl?che von feinteiligen und por?sen Materialien werden Kenngr??en zur Charakterisierung gewonnen, die wichtig für Qualit?tskontrolle oder Prozesssteuerung sein k?nnen, wie Langmuir-Oberfl?che, Adsorptions- und Desorptionsisotherme, Gesamtporenvolumen und mittlerer Porenradius, Mesoporengr??enverteilung oder Mikroporenanalyse.
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Technische Spezifikationen
- Hersteller: 3P INSTRUMENTS
- Messbereich: 77 K - xyz
- Gase: N2, Argon, Krypton